Software de medição ELECTRON totalmente em Português desenvolvido no Brasil com possibilidade de calibrar até 10 ampliações diferentes e através de imagens salvas, medir interativamente com escala de medição em microns ou milímetros. O software pode ser instalado em plataforma Windows XP, 7 ou 8; e permite uma vez selecionada a objetiva pré calibrada, medir com o acionamento do mouse em qualquer posição no espaço, linearmente, nas coordenadas X e Y, determinando: distâncias, inclusões, camadas depositadas, espessuras ou outras imagens gerando um relatório dimensional com imagens e cotas multicoloridas destacadas por numeração.
A medição de sujidade permite separar partículas em grupos , como exemplo: partículas de 3 a 5 microns grupo 1, partículas de 5 a 8 micros grupo 2 e assim na sequência, sendo assim separadas por cor, e quantidade de partículas em cada grupo. No conjunto de medição a análise é feita automati-camente, calculando-se a área de cada partícula e emitindo um relatório. Existe a possibilidade da interação filtrando a imagem afim de regularmos a mesma com relação as partículas propriamente importantes, descartando itens não inerentes a análise. O sistema opera com até 100 tomadas de imagens (posições no filtro) e analisa todas as imagens e classifica em menos de 3 segundos.
O conjunto pode ser acoplado em qualquer microscópio, seja ele: biológico, de materiais, metalúrgico, lupa ou estéreo com câmara digital.
Para funcionamento é necessário câmera digital acoplada a um microscópio de materiais ou metalúrgico, um micro ou notebook com XP , 7 ou 8(não inclusos).
- Medição de camadas linear;
- Medição no espaço;
- Medição de área qua-drada;
- Relatórios com ima-gens;
- Medição de fases;
- Medição de partículas com cálculo de área e classificação;
